Skyverse Technology Co.
国内领先的半导体质量控制设备商，产品覆盖无图形晶圆缺陷检测、图形晶圆缺陷检测、三维形貌量测与薄膜膜厚量测，是国产量检测设备替代进口（科磊、应用材料）的主力。量检测贯穿晶圆制造全流程，长期是国产化率最低的环节之一，中科飞测的突破填补了关键空白。
晶圆缺陷检测设备 · 三维形貌量测 · 膜厚量测
量检测设备是先进制程良率控制的核心，美方将其列入实体清单，限制其获取美国原产的光学镜头、激光器、精密运动平台与图像处理软件，以延缓国产量检测能力向先进节点延伸。
量检测良率控制设备自主
高端光学部件进口受限，推动国产光学供应链配套。
BIS 将中科飞测列入实体清单
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